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怡信Easson立式一键图像尺寸测量仪

如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称: 怡信Easson立式一键图像尺寸测量仪
产品型号: EG-100-05
产品展商: 怡信Easson
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简单介绍

怡信Easson立式一键图像尺寸测量仪EG-100-05为新一代影像尺寸测量系统,通过远心光学系统、高速信号采集处理、高精度图像处理算法、智能化UI软件设计等技术,实现了对物体二维尺寸的快速成像测量,有效地解决了一次成像范围与测量精度的矛盾,大幅度提高了检测效率和测量精度,消除了人为误差,人员操作简便,实现了精密测量的自动化和智能化。


怡信Easson立式一键图像尺寸测量仪  的详细介绍

怡信Easson立式一键图像尺寸测量仪EG-100-05基于光学成像的尺寸测量仪器在制造领域应用广泛,传统的光学尺寸测量仪器包括工具显微镜、投影仪、影像测量仪(二次元)等,都存在检测效率低、人为操作误差、人员技能要求高、数据难以信息化等各种问题。

怡信Easson立式一键图像尺寸测量仪EG-100-05为新一代影像尺寸测量系统,通过远心光学系统、高速信号采集处理、高精度图像处理算法、智能化UI软件设计等技术,实现了对物体二维尺寸的快速成像测量,有效地解决了一次成像范围与测量精度的矛盾,大幅度提高了检测效率和测量精度,消除了人为误差,人员操作简便,实现了精密测量的自动化和智能化。

 

一、怡信Easson立式一键图像尺寸测量仪EG-100-05技术参数:

类别:单视野成像

型号:EG-100-05。

测量范围(mm):100×80。

调焦行程(mm):30。

测量精度(μm):±5。

重复精度(μm):±1

景深(mm):10-15。

光学系统:500万像素CCD;双远心工业镜头; 远心平行背光源、LED环形正面光源。

软件:专机快速闪测Easson软件

接口:GigE ×1(双视野型号×2),RS 232 ×1,及其他可扩展接口。

电源:AC 220V,50Hz。

工作环境:温度15-25℃;湿度30%-80%;振动<0.002g, 15Hz。

 

二、怡信Easson立式一键图像尺寸测量仪EG-100-05主要特性

精准稳定快速:双远心光路结合图像畸变校正、亚像素数值处理算法,实现高精度、高稳定性尺寸测量;精密电动平台配合可快速更换及实时调节的正面照明系统,满足用户对复杂表面尺寸的准确测量。


光学畸变校正:在高精度图像尺寸测量应用中,镜头畸变校正具重要意义,即使是细微的畸变,也会造成精度严重滑坡。只有真实的图像才能真实地反映物体的真实形态。但是镜头畸变是透镜的固有失真造成的,实际应用中,还与镜头的精度、质量、生产厂商有着种种关联,是不可避免的。通常的镜头畸变主要为非线性畸变,包括了径向畸变和切向畸变。常见的桶形畸变和枕型畸变正是由径向畸变所造成的。而切向畸变是理想点沿着切线方向发生变化导致的,也可以理解为角度方向上的变化。因此,本产品对基于非线性技术的光学系统畸变校正算法进行了研究,以提高测量精度以及测量效率。将非线性畸变参数作为相机的内部参数之一,通过对初值的获取,联合其他的内部参数一并在非线性深度优化求解过程中获得。*终利用得到的误差补偿函数的系数矩阵和径向畸变参数,实现镜头畸变的误差校正,有效改善了镜头畸变造成的检测误差,满足工业测量过程中的实时性和高精度要求。


图像加速处理:由于一键式图像尺寸测量仪测量精度高、速度快,所用的各种算法时间复杂度高,数据量大,算法中存在大量的细粒度计算,对系统处理速度要求极高,常规的单核处理方式显然无法满足其应用需求。因此,我们的技术团队开发了基于多核、多CPU、GPU(Graphics Processing Unit,图形处理器)加速等方式的图像加速处理算法,利用并行式处理,结合GPU的通用计算来加速图像处理计算中的轮廓匹配、亚像素精度几何测量算法等,在保证测量精度的前提下,提高系统运算速度。


柔性智能:点、线、圆等测量元素的智能组合,可灵活调用修改,减少规划工作量;测量数据可实时SPC统计分析,并以ExcelPDF Word、图片等格式保存;可智能识别被测产品并自动调用检测档案,无需人工搜索选择,快速切换产品;特定要素测量工具可定制,CAD交互、轮廓比对等功能可定制。


适用性广:固定视野型具有立式、卧式两大系列,适用平面及回转体工件,产品量程覆盖20-200mm,满足不同规格类型产品测量;同时具备运动平台式型号,结合光栅示数的运动平台进一步扩充测量范围;软硬件接口丰富,可集成各类测量传感器、自动化机构及数字化管理软件,组成自动化智能化系统。


 

自主产权:本产品具自主知识产权,成像组件均采用高性能进口产品,图像处理算法技术完全自主开发,为用户提供更好的性价比选择、更快速及时的技术服务,且避免了盗版等法律风险。


简便高效:大视野高景深成像,无需定位工件及夹具,单次测量周期为1-2s,效率是传统设备的数十倍;只需设置匹配特征、规划测量项目两个准备步骤,即可实现多产品、多尺寸批量测量;避免了传统影像测量仪繁杂的操作流程,生手经短时间培训即可熟练操作。

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