测量投影仪被测工件Y置于工作台上,在透射或反射照明下,它由物镜0成放大实像Y′(倒像)并经光镜M1与M2反射于投影屏P的磨沙面上。当反光镜M1换成反像系统后,Y′即成为反像,一个与工件完全反向的影像,CM-300-C/D反像投影仪在屏上可用标准玻璃工作尺对Y′进行测量，也可以用预先绘制好的标准放大图对它进行比较测。测得的数值除以物镜的放大倍数即是工件的测量尺寸。还可以利用工作台上的数位测量系统对工件Y进行座标测量；也可利用投影屏旋转角度数显系统对工件的角度进行测量。
图中S1与S2分别为透射和反射照明光源，K1与K2分别为透射和反射聚光镜。视工件的性质，两种照明可分别使用，也可同时使用。半反半透镜L 仅仅在反射照明时才使用。
仪器总体结构
主要由投影箱,主壳体和工作台)三大部分构成。
2.1 投影箱:包括仪器的成像系统即物镜,反光镜M1与M2投影屏和SDS5-3PJ多功能资料测量处理电箱。投影屏旋转机构上装有角度感测器。
2.2 仪器主壳体:除支撑投影箱和工作台外,仪器的照明系统,电器控制系统,以及冷却风扇等均装上面。
2.3 仪器工作台:包括从(X轴)、横（Y轴）向运动（座标测量用）和垂向（Z轴）运动（调焦用）。X轴与Y轴配有解析度为0.001mm的光栅线位移感测器。
三、 仪器测量方法
投影仪测量方法概括为2类: 轮廓测量与座标测量.
3.1 轮廓测量
1） 用“标准放大图”进行比较测量
此法适用于形状复杂，批量大的零件检验。步骤为：
2） 按零件大小确定物镜倍率,再按零件设计图纸制作与物镜放大倍率相同比例的标准放大图,材料选用伸缩性较小的透明塑胶片.在图上还可以绘出允许的公差带,如零件尺寸在￠30左右,则制10:1的放大图,选用10X物镜进行测量.标准圆弧、角度、螺纹、齿形、网格、等放大图也有现成的可购买。
3） 将标准放大图用四只弹性压板在投影屏上.
4） 工件放在工作台上,调好焦.移动X、Y工作台使零件影像与放大图套准。
5） 若工作影像与放大图的偏差在公差带之内,则为合格.超出范围为不合格,偏差数值可以用X、Y座标测量出来。
6） 用格值为0.5mm标准玻璃工作尺(选购附件)在屏上直接测量工件影像的大小(小于格值部分也可用X、Y座标数显测出)，除以物镜放大倍数即为工件的测量尺寸.
3.2 座标测量
分为单坐标测量和数据处理器功能测量：
1）单座标测量
a) 工件置工作台上,选用倍率较高的物镜,调好焦. 图2 单座标测量示意图
b) 投影屏旋转零位对准,即屏框上的短白线对准零位元标记.
c) 调整工件被测方向测量轴平行,如图9中BC边平行于X轴.
d) 移动工作台,将被测长度的一个端面如AB边对准屏上的垂直刻线,X座标值清零.
e) 移动X轴,使工件另一端面如CD边对准垂直刻线.X轴显示值即工件AD边的尺寸.
2）功能测量
利用数据处理器的多功能资料处理电箱上座标旋转功能(SKEW),工件可以任意摆放,无需**调整,只需移动工作台,使A、B、C、D、E依次对准十字线中点采样，就可测出相应长度，这样可以节省大量调整时间、提高测量效率。